نوع فایل power point

قابل ویرایش 20 اسلاید

قسمتی از اسلایدها

روش فلور سانس پرتو ایکس یکی از روش های آنالیز عنصری است که امروزه از آن به طور وسیعی در صنعت و مراکز پژوهشی استفاده می شود.

این روش به ویژه به خاطر سرعت زیاد در شناسایی عنصر، برای برخی صنایع ضروری است اما دستگاههای  XRFاز نظر سرمایه گذاری ابتدایی هزینه بالایی نیاز دارند. بنابراین همه مراکز صنعتی و آزمایشگاهی توان خرید آن را ندارند.

حد تشخیص (Detection Limit) دستگاه XRF درحد صدم درصد می باشد.

 XRFتقریبا تمامی عناصر جدول تناوبی از برلیم تا اورانیوم (البته جز گازهای نجیب) را اگر مقدار این عناصر درحد تشخیص باشد مشخص می کند.

  بلور آنالیز کننده

بلورفلورید سدیم (NaF) بیشترین کاربرد را در این دستگاه ها دارد زیرا این بلور توانایی شناسایی عنصرهای از پتاسیم تا اورانیوم را دارد.

مواد دیگری که به عنوان بلور آنالیز کننده در دستگاه های  XRFاستفاده می شود بلور ژرمانیم است که برای شناسایی عنصرهای از فسفر تا کلر به کار می رود. ترکیبات پلیمری نیز برای شناسایی عنصرهای سبک مفید ترند.

امروزه در دستگاههای XRF برای پرهیز از جابجایی پیوسته بلور های آنالیز کننده آنها را بر روی یک منشور چند وجهی سوار می کنند و بدین ترتیب با چرخاندن منشور بلور مورد نظر به راحتی در برابر پرتو ایکس قرار می گیرد.

فهرست مطالب و اسلایدها

مقدمه

اجزای دستگاه XRF

اساس کار دستگاه XRF

آماده سازی نمونه

انواع دستگاه های XRF

جمع بندی