پاورپوینت میکروسکوپ نیروی اتمی Atomic Force Microscopy

- پاورپوینت ميكروسكوپ نيروي اتمي Atomic Force Microscopy

پاورپوینت میکروسکوپ نیروی اتمی Atomic Force Microscopy

 

 

 

 

 

 

 

 

نوع فایل: power point

قابل ویرایش 18 اسلاید

 

قسمتی از اسلایدها:

نوسانات سوزن در هنگام روبش نمونه با استفاده از قوانین فیزیک نور ( اپتیک ) رصد می شود. در دستگاه های AFM امروزی یک منبع تولید نور لیزر،  یک دسته  اشعه نوری را به  روی  فنر می تاباند. با  لرزش و جابجایی  فنر،  زاویه تابش لیزر منحرف می گردد. انحراف صفحه فنر به اندازه زاویه منجر به انحراف اشعه لیزر به اندازه  2 خواهد شد. اشعه لیزر منعکس شده، توسط مقاطع دیودی حساس به نور ردگیری می شود. بدین ترتیب پستی و بلندی های اتمی سطح نمونه قابل رویت خواهد بود . شکل (15 )  تصویری کلی از ردیابی در دستگاه AFM را نشان می دهد.

فهرست مطالب و اسلایدها:

اصول عملکرد میکروسکوپ AFM

کاربردهای AFM

برای دانلود کلیک کنید