پاورپوینت میکروسکوپ نیروی اتمی Atomic Force Microscopy
نوع فایل: power point
قابل ویرایش 18 اسلاید
قسمتی از اسلایدها:
نوسانات سوزن در هنگام روبش نمونه با استفاده از قوانین فیزیک نور ( اپتیک ) رصد می شود. در دستگاه های AFM امروزی یک منبع تولید نور لیزر، یک دسته اشعه نوری را به روی فنر می تاباند. با لرزش و جابجایی فنر، زاویه تابش لیزر منحرف می گردد. انحراف صفحه فنر به اندازه زاویه منجر به انحراف اشعه لیزر به اندازه 2 خواهد شد. اشعه لیزر منعکس شده، توسط مقاطع دیودی حساس به نور ردگیری می شود. بدین ترتیب پستی و بلندی های اتمی سطح نمونه قابل رویت خواهد بود . شکل (15 ) تصویری کلی از ردیابی در دستگاه AFM را نشان می دهد.
فهرست مطالب و اسلایدها:
اصول عملکرد میکروسکوپ AFM
کاربردهای AFM